1993年12月15日 土井靖生
概要
これまでのモデル計算によりれば、もし電離領域の密度が の程度で、且つCの大半がC+イオンなら、[CII] の観測強度を説明できる(12月1日付レポート参照)。この2つの条件が成り立っているかどうかを、各種の観測から推測する。
推測の結果、[CII] 輝線のかなりの割合が電離領域起源であるとの疑いが濃くなった。